РУС ENG
Санкт-Петербург

ул. Бумажная, 18, офис B-203

Схема проезда
+7 (812) 449-89-46

Ленинские горы, д. 1с77, офис 101В


Схема проезда
+7 (495) 136-53-99

Каталог



Микроскопия

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это многофункциональное оборудование, которое далеко выходит за рамки устройства для получения увеличенных изображений. Cканирующий электронный микроскоп состоит из электронно-оптической колонны, блока электроники и управляющего компьютера (иногда колонна и блок электроники объединены). У всех современных СЭМ изображения формируются сразу в цифровом формате, окуляров нет.

Области применения: Материаловедение, Полупроводники, Науки о жизни.

Контрольно - измерительное оборудование

В данном разделе представлены различные средства измерений, предназначенные для получения значений измеряемой физической величины в установленном диапазоне.

Оборудование для тестирования на ЭМС

В данном разделе представлены экранированные  камеры, оборудование и материалы   используемые для проверки на эмиссию и помехоустойчивость в соответствии с основными международными нормами на ЭМС.

Антенны и усилители

В данном разделе представленны антенны и усилители, применяемые при тестироваии на эмиссию и помехоустойчивость в соответствии с основными международными нормами на ЭМС.

Испытательное оборудование

В данном разделе представленно оборудование, предназначеное для имитации воздействия окружающей среды на объект испытания. Электродинамические вибростенды и камеры тепла, холода, влаги.

Системы для диагностики печатных плат

Спецоборудование для функциональной диагностики радиоэлектронной аппаратуры, продления жизненного цикла и обратного инжиниринга аналоговых и цифровых электронных схем.